|
|
Informatyka w systemach pomiarowo-kontrolnych POLITECHNIKA WARSZAWSKA - Wydział Elektryczny - Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Miernictwa Elektrycznego - Studia Podyplomowe ul. Koszykowa 75, Gmach Elektrotechniki, p. 216, 00-662 Warszawa
tel.:(0...22) 660-73-70, fax.: (0...22) 660-56-42
|
Platforma Edukacyjna - gotowe opracowania lekcji oraz testów.
| Kierownik studium: |
dr hab. inż. Remigiusz Rak, prof. nzw. |
| Charakterystyka: |
Tematyka studium dotyczy wybranych problemów zastosowań informatyki w technice pomiarowej. Celem studium jest zapoznanie uczestników z najnowszymi rozwiązaniami, zarówno sprzętowymi jak i pomiarowymi, stosowanymi w systemach pomiarowych. Na studium są omawiane zagadnienia z następujących grup tematycznych: sprzęt i oprogramowanie systemów pomiarowych, aparatura kontrolno-pomiarowa, wirtualne przyrządy pomiarowe, zastosowania mikroprocesorów i mikroelementów w systemach pomiarowo-kontrolnych, narzędzia wspomagające prezentację i dokumentowanie wyników pomiarów. Studium jest adresowane do osób zainteresowanych poznaniem nowych technik pomiarowych, a w szczególności inżynierów odpowiedzialnych za działanie systemów pomiarowych i optymalne wykorzystanie funkcji nowoczesnej aparatury pomiarowej. |
| Czas trwania: |
1 semestr, 90 godz. |
| Zasady naboru: |
Zgłoszenie |
| Termin zgłoszeń: |
Do 20 września |
| Opłaty: |
2000 zł |
| Informacje dodatkowe: |
Zajęcia na studium w formie wykładów i laboratoriów odbywają się w czasie 2-dniowych zjazdów, co 2 lub 3 tygodnie. |
| Slowa kluczowe: |
elektrotechnika, systemy pomiarowe, informatyka | |
INFORMACJE O PREZENTACJI Ostatnią zmianę prezentacji wykonał: Szkolnictwo.pl.
IP autora: 83.21.195.174
Data utworzenia: 2008-09-01 20:42:09
Edycja: Edytuj prezentację. HISTORIA PREZENTACJI Szkolnictwo.pl (83.21.195.174) - Prezentacja (2008-09-01 20:42:09) - Edytuj prezentację.
|
|
|
